双向可控硅怎么测量

测量双向可控硅（SCR）的方法可以分为几个步骤，包括外观检查、引脚识别、触发特性测试、反向特性测试和导通特性测试。以下是详细的测量步骤：

外观检查

检查双向可控硅的外壳是否有明显的烧焦痕迹或裂纹。

检查引脚是否弯曲或断裂。

检查封装是否完好，没有裂纹或破损。

引脚识别

使用万用表的二极管测试功能，测量各引脚之间的正向压降，以确定引脚的连接关系。

通常，双向可控硅的阳极（A）、阴极（K）和门极（G）分别标记为A、K和G。

触发特性测试

使用万用表的电阻档，测量阳极（A）和门极（G）之间的电阻值。正常情况下，该电阻值应较小，表示门极容易触发。

在阳极（A）和阴极（K）之间施加正向电压，同时在门极（G）和阴极（K）之间施加正向电压，观察双向可控硅是否导通。如果导通，说明触发特性正常。

反向特性测试

将万用表切换到二极管测试功能，测量阳极（A）和阴极（K）之间的反向压降。正常情况下，该压降应大于等于0V。

在阳极（A）和阴极（K）之间施加反向电压，观察双向可控硅是否导通。如果未导通，说明反向特性正常。

导通特性测试

在阳极（A）和阴极（K）之间施加正向电压，同时在门极（G）和阴极（K）之间施加正向电压，观察双向可控硅是否导通。

逐渐增大阳极（A）和阴极（K）之间的正向电压，观察双向可控硅的导通情况。

使用特殊测试仪

使用双向可控硅测试仪测试双向可控硅的正反向触发特性、电流特性等。

注意事项

在测试过程中，确保电源和电路安全，避免触电风险。

使用合适的测试仪器和档位，以确保测量结果的准确性。

在测量较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。

通过以上步骤，可以全面评估双向可控硅的性能和状态，判断其是否损坏或性能变坏。